- 示波器
- USB Protocol Analyzer 協定分析儀
- 100MHz-1GHz 示波器
- T3DSO1000/1000A (100 MHz-350 MHz) 經濟型示波器
- T3DSO1000HD (100 MHz-200 MHz) 示波器
- T3DSO2000A Series (100MHz-500MHz)
- T3DSO2000HD (100 MHz-350 MHz) 示波器
- T3DSO3000 (200 MHz-1 GHz) 經濟型示波器
- T3DSO3000HD (200 MHz-1 GHz) 示波器
- T3DSO4000L-HD (500 MHz-2 GHz) 示波器
- Wavesurfer 3000z (100MHz-1GHz) 數位示波器
- WaveSurfer 4000HD (200MHz-1GHz) 高解析度示波器 (12 bits)
- HDO4000A (200MHz-1GHz) 高解析度示波器 (12 bits)
- HDO6000A/B (350MHz–1GHz) 高解析度示波器 (12 bits)
- WaveRunner 8000 (350 MHz-2 GHz) 八通道高解析度示波器 (12 bits)
- MDA 8000HD (350 MHz-2 GHz) 電機驅動分析儀 (12 bits)
- WaveRunner 9000 (500MHz-4GHz) 示波器
- T3 Series-Waveform Function Generators 波形產生器
- T3 Series-Digital Multimeters 數位電錶
- T3 Series-Power Supply 電源供應器
- T3EL Series-Electronic Loads 電子負載器
- T3 Series-Milli Ohm Meter 毫歐姆電錶
- T3PM Series-Power Meters 功率計
- T3 Series-LCR Meters
- T3SA Series-Spectrum Analyzers 頻譜分析儀
- T3VNA-Vector Network Analyzers 向量網絡分析儀
- HDO8000A (350MHz–1GHz) 高解析度示波器 (12 bits) Product Status: Obsolete
- WaveJet Touch Oscilloscopes_Product Status: Obsolete
- 測棒
- T3CP Series-AC/DC Current Probes 電流探棒
- Current Probe 電流探棒
- Active Voltage Probe 主動探棒
- High Voltage Differential Probes 高壓差動探棒
- High Voltage Passive Probes 高壓被動式探棒
- Differential Probes (<= 1.5 GHz) 差動探棒
- T3 Series-Differential Probes 差動探棒
- T3 Series-Rogowski Coil Current Probes 線圈電流探棒
- Active Voltage Rail Probe 主動電軌探棒
- 60 V Common Mode Differential Probes 共模差動測試棒
- High Voltage Optically Isolated Probes 高壓光隔離探棒
- 手機應用測試
- 應用測試-高速介面、電纜 電氣特性測試
- 射頻、微波量測、數位
- 主、被動元件量測
- 無線測試
- 數位、高速介面量測
- 光通訊
- 量測周邊配件、探棒
- B&K Precision 電源量測
- 固緯 GWINSTEK
示波器T3 Series-Milli Ohm Meter 毫歐姆電錶
- 示波器
- USB Protocol Analyzer 協定分析儀
- 100MHz-1GHz 示波器
- T3DSO1000/1000A (100 MHz-350 MHz) 經濟型示波器
- T3DSO1000HD (100 MHz-200 MHz) 示波器
- T3DSO2000A Series (100MHz-500MHz)
- T3DSO2000HD (100 MHz-350 MHz) 示波器
- T3DSO3000 (200 MHz-1 GHz) 經濟型示波器
- T3DSO3000HD (200 MHz-1 GHz) 示波器
- T3DSO4000L-HD (500 MHz-2 GHz) 示波器
- Wavesurfer 3000z (100MHz-1GHz) 數位示波器
- WaveSurfer 4000HD (200MHz-1GHz) 高解析度示波器 (12 bits)
- HDO4000A (200MHz-1GHz) 高解析度示波器 (12 bits)
- HDO6000A/B (350MHz–1GHz) 高解析度示波器 (12 bits)
- WaveRunner 8000 (350 MHz-2 GHz) 八通道高解析度示波器 (12 bits)
- MDA 8000HD (350 MHz-2 GHz) 電機驅動分析儀 (12 bits)
- WaveRunner 9000 (500MHz-4GHz) 示波器
- T3 Series-Waveform Function Generators 波形產生器
- T3 Series-Digital Multimeters 數位電錶
- T3 Series-Power Supply 電源供應器
- T3EL Series-Electronic Loads 電子負載器
- T3 Series-Milli Ohm Meter 毫歐姆電錶
- T3PM Series-Power Meters 功率計
- T3 Series-LCR Meters
- T3SA Series-Spectrum Analyzers 頻譜分析儀
- T3VNA-Vector Network Analyzers 向量網絡分析儀
- HDO8000A (350MHz–1GHz) 高解析度示波器 (12 bits) Product Status: Obsolete
- WaveJet Touch Oscilloscopes_Product Status: Obsolete
- 測棒
- T3CP Series-AC/DC Current Probes 電流探棒
- Current Probe 電流探棒
- Active Voltage Probe 主動探棒
- High Voltage Differential Probes 高壓差動探棒
- High Voltage Passive Probes 高壓被動式探棒
- Differential Probes (<= 1.5 GHz) 差動探棒
- T3 Series-Differential Probes 差動探棒
- T3 Series-Rogowski Coil Current Probes 線圈電流探棒
- Active Voltage Rail Probe 主動電軌探棒
- 60 V Common Mode Differential Probes 共模差動測試棒
- High Voltage Optically Isolated Probes 高壓光隔離探棒
- 手機應用測試
- 應用測試-高速介面、電纜 電氣特性測試
- 射頻、微波量測、數位
- 主、被動元件量測
- 無線測試
- 數位、高速介面量測
- 光通訊
- 量測周邊配件、探棒
- B&K Precision 電源量測
- 固緯 GWINSTEK
T3 Series-Milli Ohm Meter 毫歐姆電錶
Teledyne Test Tools T3MIL50X


4-Wire, Handler/RS-232C/USB Device/GPIB D.C Milli-Ohm Meter with Advanced Features
- 產品特性
- 50,000 計數顯示
- 3.5 英寸 (320x240) TFTLCD 顯示幕
- 0.05 % 的高精度
- 1A 測試電流,0.1 μΩ 解析度
- 每秒 60 個讀數的快速測量
- 四線電阻測量
- 溫度補償測量功能
- 延遲測量
- 20 組面板設置記憶
- 幹電路測試(僅限 T3MIL50X)
- 驅動模式: T3MIL50X: DC+/DC-, 脈衝, PWM, 零, 待機 T3MIL50: DC+, 待機
- 介面:USB 設備、RS-232C、處理程式/掃描/EXT I/O
各種驅動模式(僅限 T3MIL50X)
T3MIL50X 為不同材料的測量應用提供幹電路和各種驅動模式(DC+、DC-、Pulsed、PWM)。脈衝電流輸出模式適用於不同材料的相互作用導體,以減少熱電動勢對測量的影響。熱電動勢是由不同導體在不同溫度下作用時產生的電位差引起的,同時進行低電阻測量。DC+ 和 DC- 輸出模式最適合測量電感元件。PWM 輸出模式適用於測量溫度敏感材料,以避免因長時間施加測量電流而引起的任何電阻變化。幹電路測試用於檢測配合接觸表面上的污染物和氧化物。通常,幹電路測試與環境應力測試一起進行,目的是在連接器接觸表面產生污染或金屬氧化物。在測試過程中,通過觸點的過大電流會導致觸點區域在微觀層面上發生物理變化。電流會導致發熱,從而軟化或熔化接觸點和周圍區域。接觸面積擴大,導致電阻降低。為避免“擦去”污染物,採用乾路法進行測試。幹電路是指電壓和電流被限制在不會導致觸點結點的物理和電氣條件發生變化的水準。通常,開路電壓為 20 mV 或更低,短路電流為 100 mA 或更低。幹電路測量也可以在 DC+、DC 和脈衝模式下進行