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LeCroy WavePulser 40iX高速互連分析儀 (TDR阻抗分析/S參數解決方案)
2019-06-12
WavePulser 40iX高速互連分析儀，提供無與倫比的特徵洞察力,可同時顯示時域和頻域細節
LeCroy於本月推出WavePulser 40iX高速互連分析儀，這是一種獨特的互連測試和驗證解決方案。WavePulser 40iX是高速硬體設計人員和測試工程師理想的工具，可用於表現和分析高速串列協定的互連和纜線，如PCIExpress，HDMI，USB，SAS，SATA，Fiber Channel，InfiniBand，千兆乙太網和汽車乙太網。
到目前為止，互連測試和驗證在時域(Time Domain)和頻域(Frequency Domain)測試上被分成兩部分，對於前者，信號完整性工程師使用TDR生成阻抗曲線來表現階躍/脈衝響應，TDR的特點是空間解析度高，能夠精確定位傳輸線的損失，並通過阻抗曲線的變化來標注。對於後者，以高動態範圍為特徵的VNA通常由微波工程師用於測量射頻（RF）器件的S參數，當用於高速互連測試時，VNA需要推導出DC回應以及用於時域模擬、time gating和抖動分析的分析工具。兩種測試儀器都不能完全滿足測試和驗證高速互連的設計工程師的需求。
WavePulser 40iX結合時域(Time Domain)和頻域(Frequency Domain)表現功能，極大地簡化了高速互連測試和驗證的過程。在單次採集和單台儀器中，WavePulser 40iX既可以像向量網路分析儀（VNA）執行完整的S參數頻率表徵，又可以像時域反射儀（TDR）執行阻抗分析，並提供深度分析功能。WavePulser 40iX可快速自動校準，易於使用，解析實體信號路徑的複雜性，準確表徵串列資料纜線、通道、連接器、導通孔、背板、PCB，晶片和SoC封裝等。測量的S參數也可用於其他分析，包括timegating、去嵌、眼圖、優化的均衡設置、串列資料碼型模擬和高級抖動分析。
“WavePulser40iX將時域和頻率域整合在一個儀器中，可以檢測損失，如組裝不良的連接器、機械損壞的線纜或通道中的不連續位置。“僅使用頻域中的S參數就無法檢測到這種損傷，因為這些影響在DUT的頻率回應中被分散了，但WavePulser 40iX可以輕鬆識別和定位它們，空間解析度小於1 mm，它還提供從DC到40 GHz的單端和混合模式S參數測量（可用於模擬）。如果沒有WavePulser 40iX，可能需要四種不同的軟體工具來測量S參數、去嵌夾具、在時域或頻域中顯示為單端或混合模式，並類比眼圖。”
LeCroy於本月推出WavePulser 40iX高速互連分析儀，這是一種獨特的互連測試和驗證解決方案。WavePulser 40iX是高速硬體設計人員和測試工程師理想的工具，可用於表現和分析高速串列協定的互連和纜線，如PCIExpress，HDMI，USB，SAS，SATA，Fiber Channel，InfiniBand，千兆乙太網和汽車乙太網。
到目前為止，互連測試和驗證在時域(Time Domain)和頻域(Frequency Domain)測試上被分成兩部分，對於前者，信號完整性工程師使用TDR生成阻抗曲線來表現階躍/脈衝響應，TDR的特點是空間解析度高，能夠精確定位傳輸線的損失，並通過阻抗曲線的變化來標注。對於後者，以高動態範圍為特徵的VNA通常由微波工程師用於測量射頻（RF）器件的S參數，當用於高速互連測試時，VNA需要推導出DC回應以及用於時域模擬、time gating和抖動分析的分析工具。兩種測試儀器都不能完全滿足測試和驗證高速互連的設計工程師的需求。
WavePulser 40iX結合時域(Time Domain)和頻域(Frequency Domain)表現功能，極大地簡化了高速互連測試和驗證的過程。在單次採集和單台儀器中，WavePulser 40iX既可以像向量網路分析儀（VNA）執行完整的S參數頻率表徵，又可以像時域反射儀（TDR）執行阻抗分析，並提供深度分析功能。WavePulser 40iX可快速自動校準，易於使用，解析實體信號路徑的複雜性，準確表徵串列資料纜線、通道、連接器、導通孔、背板、PCB，晶片和SoC封裝等。測量的S參數也可用於其他分析，包括timegating、去嵌、眼圖、優化的均衡設置、串列資料碼型模擬和高級抖動分析。
“WavePulser40iX將時域和頻率域整合在一個儀器中，可以檢測損失，如組裝不良的連接器、機械損壞的線纜或通道中的不連續位置。“僅使用頻域中的S參數就無法檢測到這種損傷，因為這些影響在DUT的頻率回應中被分散了，但WavePulser 40iX可以輕鬆識別和定位它們，空間解析度小於1 mm，它還提供從DC到40 GHz的單端和混合模式S參數測量（可用於模擬）。如果沒有WavePulser 40iX，可能需要四種不同的軟體工具來測量S參數、去嵌夾具、在時域或頻域中顯示為單端或混合模式，並類比眼圖。”